光谱角分布测量系统
光谱测量系统  光谱角分布测量系统  光谱角分布测量系统的特点 光谱角分布测量系统的技术  光谱角分布测量系统的功能 光谱角分布测量系统的波长 光谱角分布测量系统简图
FWS-750、FWS-1000、ICP-1000II
我司北京华洋公司(1989成立)所产仪器均自行研发生产,不论从检出限、灵敏度、精密度等多项技术指标都达到甚至超过国家行业标准,公司成立至今已有21年历史,公司技术实力雄厚.仪器价格实惠性能优良稳定,有良好的售后服务,欢迎来电垂询.( 深圳办事处 黄敬华 13632977860
旋光仪wzz-2b
旋光仪-旋光仪WZZ-2B通过对样品旋光度的测定,可以确定物质的浓度、纯度、糖度或含量。广泛应用于制糖、制药、药检、食品、香料、味精以及化工、油等工业生产、科研教学部门作化验分析或过程质量控制。
膜厚测定装置
自动绝对反射率测量装置一边变化照到样品的入射角,一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件,半导体,薄膜,光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定,受光角通过滑动积分球控制。另外,能用非同步方式分别设定入射角和受光角
HP-300单角度光泽度仪
【产品名称】:HP-300单角度光泽度仪【产品型号】:HP-300【搜索关键词】:光泽度仪 单角度光泽仪 HP-300
带Peltier温控的自动旋光仪
Peltier 元件的特点是,玻璃内有金属套筒,探针里有温度传感器。Peltier良好的绝缘性和配置使样品温度均一,因此不用水浴恒温器而能实现精确测量。
聚光科技M5000全谱直读光谱仪
M5000 台式直读光谱仪用于快速定量分析多种金属材料中的化学元素。仪器操作简单,维护方便,分析精度完全达到实验室要求,并可以在炉前环境下长期使用,稳定可靠。仪器采用帕型-龙格多CCD光学系统, 可分析元素的波长范围从140nm 到680nm,满足金属行业中
近接场光学显微分光系统
日本分光株式会社生产的可以分光测定的扫描型接近场光学显微镜NFS系列,世界一流。这台装置能10-100nm左右的空间分解力进行显微分光测量。能在微小的领域观测光谱强度变化以及波峰变换可更好的对物质特性描述。